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APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING PROPERTIES OF MATERIALS BY SENSING SIGNALS RESPONSIVE TO BOTH AMPLITUDE AND PHASE CHANGES IN TRANSMITTED OR REFLECTED MICROWAVE ENERGY

机译:通过感测对透射或反射的微波能量中的振幅和相位变化都敏感的信号来测量材料性能的装置和方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号US3562642A

    专利类型

  • 公开/公告日1971-02-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 RICHARD HOCHSCHILD;

    申请/专利号USD3562642

  • 发明设计人 RICHARD HOCHSCHILD;

    申请日1968-12-02

  • 分类号G01R27/04;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:09

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