退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:通过使用可见称量的砝码进行精确天平,特别是分析天平
公开/公告号DE1549273B1
专利类型
公开/公告日1973-05-03
原文格式PDF
申请/专利权人 SAUTER KG AUGUST DE;
申请/专利号DE19671549273
发明设计人 AST ADOLF DE;
申请日1967-07-26
分类号G01G1/40;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 07:13:10
机译: 通过使用可见称量的砝码进行精确天平,特别是分析天平
机译: 通过使用可见称量的砝码实现精密天平,特别是分析天平