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机译:用于表示待测器件特性曲线的电路布置
公开/公告号DE000001941238C
专利类型
公开/公告日1973-09-27
原文格式PDF
申请/专利权人 IWASAKI TSUSHINKI K.K. TOKIO;
申请/专利号DE1941238A
发明设计人 NAKAGAWA TOSHIYA TOKIO;
申请日1969-08-13
分类号G01R13/22;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 07:09:39
机译: 用于表示待测器件特性曲线的电路布置
机译: 用于自动比较dut的模拟特性与所需特性的电路装置