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机译：用于在温度作用下测量待测物长度变化的干涉仪
公开/公告号DE2344822A1
专利类型
公开/公告日1974-03-14
原文格式PDF
申请/专利权人 LETAT FRANCAIS REPRESENTE PAR LE DELEGUE MINISTERIEL POUR LARMEMENT;
申请/专利号DE19732344822
发明设计人 DURANDJEAN-PIERRE;CHRISTYJEAN-PAUL;LAURENSALBERT;
申请日1973-09-05
分类号G01B9/02;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 05:20:45
机译： 用于在梯度操作期间测量磁共振单元的梯度线圈中的尺寸变化的光纤装置，由此将纤维牢固地连接到线圈，并通过干涉法测量其长度变化
机译： 一种同时考虑例如弯曲发生的测量dust的长度的微小变化的方法
机译： 器件处理，包括使用折射率变化的光学干涉测温法来测量半导体晶圆温度
