退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:在温度分布干涉仪作用下测量d变化的测试时间
公开/公告号IT993790B
专利类型
公开/公告日1975-09-30
原文格式PDF
申请/专利权人 ETAT FRANCAIS REPRESENTE PAR LE DELEGUE MINISTERIEL POUR;
申请/专利号IT19730028274
发明设计人 CHRISTY J;LAURENS A;DURAND J;
申请日1973-08-28
分类号G01N;
国家 IT
入库时间 2022-08-23 04:27:24
机译: 非均质测试片即片剂的硬度测试及长度,宽度和高度的测量执行装置,在激光测量装置上设置压力测量探头,用于测量测试片的长度,宽度和高度
机译: 用于在空间方向上表示独立的测试长度的设备,用于测量和/或检查多传感器坐标测量设备的精度,该设备具有带有模块化组件的测试体,这些组件可以堆叠或插入
机译: 包括用于测试有效通道长度的测试模式的半导体装置以及使用该测试模式测量有效通道的长度的方法