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机译:激光散射法分析多分散体系粒度的方法。
公开/公告号NL7509966A
专利类型
公开/公告日1976-02-25
原文格式PDF
申请/专利权人 BAYER AKTIENGESELLSCHAFT TE LEVERKUSEN- -BAYERWERK BONDSREPUBLIEK DUITSLAND.;
申请/专利号NL19750009966
发明设计人
申请日1975-08-22
分类号G01N15/02;B01L3/14;G06F15/20;
国家 NL
入库时间 2022-08-23 02:50:10
机译: 激光散射法分析多分散系统的粒径
机译: Chen Groe Sen部分-借助激光散射对多分散体系进行分析