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机译:气体分析设备的测试及痕量氰化氢的测定与测定方法
公开/公告号JPS5235800A
专利类型
公开/公告日1977-03-18
原文格式PDF
申请/专利权人 BAYER AG;
申请/专利号JP19760096625
发明设计人 BORUFU YURUGEN BETSUKERU;KURUTO SHIYURETSUKURINGU;
申请日1976-08-14
分类号G01N30/04;C01C3/02;G01N31/10;G01N33/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-23 01:15:05
机译: 痕量和超痕量各种卤素和硫的自动分析方法和装置
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