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机译:defektoskop同位素到控制管,特别是对于小型srednicach
公开/公告号PL94751B1
专利类型
公开/公告日1977-08-31
原文格式PDF
申请/专利权人
申请/专利号PL19740176267
发明设计人
申请日1974-12-07
分类号G01N23/18;
国家 PL
入库时间 2022-08-23 00:45:28
机译: 磁性defektoskop,用于检查钢缆,杆和管
机译: 一种用于在封闭的元件中,尤其是小型srednicach的管中进行洗涤和dokladnego的装置
机译: 通过控制分布方法分离同位素,特别是利用同位素浓度效应