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apparatus and method to measure the thickness of objects and materials, in particular, the thickness of the dielectric wall hollow glass objects

机译:测量物体和材料的厚度,特别是介电壁中空玻璃物体的厚度的装置和方法

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号IT1008674B

    专利类型

  • 公开/公告日1976-11-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OWENS ILLINOIS INC;

    申请/专利号IT19740047592

  • 发明设计人

    申请日1974-01-08

  • 分类号G01B;

  • 国家 IT

  • 入库时间 2022-08-23 00:38:49

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