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机译：一种通过光学扫描突起的检验方法
公开/公告号DE2625001A1
专利类型
公开/公告日1976-12-16
原文格式PDF
申请/专利权人 AMF INC;
申请/专利号DE19762625001
发明设计人 BENINI FERNANDO;
申请日1976-06-03
分类号A24C5/34;G01B11/00;G01M11/00;B07C5/342;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 00:00:38
机译： 用于检查光学扫描装置的兼容性的光学记录介质，以及用于检验光学扫描装置的兼容性的平方方法的用途
机译： 光学代码标签扫描仪的内置检查方法-具有照明水平系统，该系统可以改变输出，以对扫描仪的输出进行检查
机译： 检查工件检查表面是否密封的方法，包括使用光学测量系统用涂覆的材料扫描检查表面
