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DETECTION CIRCUIT OF TRANSIENT CONDITION FOR SIGNAL WAVEFORM

机译：信号波形瞬态检测电路

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摘要

PURPOSE:To establish a detection circuit of transient condition for a signal waveform, by utilizing MOS NAND or AND gate.
机译：目的：利用MOS与非或与门建立信号波形瞬态检测电路。

著录项

  • 公开/公告号JPS53113460A

    专利类型

  • 公开/公告日1978-10-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU LTD;

    申请/专利号JP19770028247

  • 发明设计人 WADA KENSAKU;FUJITA KOUICHI;

    申请日1977-03-15

  • 分类号H03K3/64;H03K3/02;H03K3/72;H03K5/00;H03K5/1532;H03K5/156;H03K17/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 23:21:12

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