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Appts. for analysing microscopic particles - repeatedly illuminates each particle with sequence of pulses of light

机译:Appts。用于分析微观粒子-用光脉冲序列重复照射每个粒子

摘要

Apparatus for analysing microscopic particles of different types, and recognising a number of different parameters of each particle. The apparatus comprises a device for repeatedly illuminating each of the particles with a sequence of pulses of light; an assembly for forming an image of the particle illuminated by each light pulse; a scanning structure for separately scanning each image; and a mechanism for producing a separate data output from each sequentially scanned image, each data output being capable of representing a different one of the parameters of the particles. The scanning structure comprises a raster mode scanning member for the separate scanning of each sequential image in a normal raster mode.
机译:用于分析不同类型的微观粒子并识别每个粒子的许多不同参数的设备。该设备包括用于用一系列光脉冲重复照射每个颗粒的设备;组件,用于形成由每个光脉冲照射的粒子的图像;用于分别扫描每个图像的扫描结构;以及用于从每个顺序扫描的图像产生单独的数据输出的机构,每个数据输出能够表示粒子的参数中的不同参数。扫描结构包括光栅模式扫描构件,用于以正常光栅模式分别扫描每个顺序图像。

著录项

  • 公开/公告号DE000002259961C3

    专利类型

  • 公开/公告日1978-01-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号DE2259961A

  • 发明设计人

    申请日1972-12-07

  • 分类号G06M11/04;G01N15/02;G01N33/16;A61B5/14;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 22:07:40

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