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首页> 外国专利> EXTRACTING METHOD FOR NONNDEFECTIVE OR DEFECTIVE SEMICONDUCTOR PELLETSBASED ON MEMORY MEANS

EXTRACTING METHOD FOR NONNDEFECTIVE OR DEFECTIVE SEMICONDUCTOR PELLETSBASED ON MEMORY MEANS

机译：基于记忆手段的非缺陷或缺陷半导体颗粒的提取方法

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摘要

PURPOSE:To prevent wrong extraction by making possible instantaneous checking of the extraction of defective pellets.
机译：目的：通过对有缺陷的颗粒的提取进行即时检查来防止提取错误。

著录项

  • 公开/公告号JPS5410832B2

    专利类型

  • 公开/公告日1979-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号JP19770003981

  • 发明设计人

    申请日1977-01-19

  • 分类号H01L21/66;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 21:14:10

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