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APPLIANCE FOR INTERFERENCE MEASURING THE FUNCTIONAL ANGLE DEVIATIONS OF SINGULAR SECTORS OF THE CORNER PRISMS

机译:干涉测量角质点奇异截面功能角的装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号CS192350B1

    专利类型

  • 公开/公告日1979-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KRSEKJIRICS;

    申请/专利号CS19770007710

  • 发明设计人 KRSEKJIRICS;

    申请日1977-11-23

  • 分类号G01M11/02;

  • 国家 CS

  • 入库时间 2022-08-22 20:49:21

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