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机译:通过相干光研究固体的较小位置的垂直立柱的方法和装置
公开/公告号DE2420732C3
专利类型
公开/公告日1979-07-12
原文格式PDF
申请/专利权人 OFFICE NATIONAL DETUDES ET DE RECHERCHES AEROSPATIALES O.N.E.R.A. CHATILLONOSOUS-BAGNEUX HAUTS-DE-SEINE (FRANKREICH);
申请/专利号DE19742420732
发明设计人 PHILBERT MICHEL ERIC CHARLES PARIS;
申请日1974-04-29
分类号G01D5/30;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 19:54:05
机译: 通过相干光研究固体的较小位置的垂直立柱的方法和装置
机译: 用于自动补偿微波电路装置中信号电平的垂直端部的方法,该装置包括拖轮轴发生器和微波信号检测器,以及用于执行该方法的装置