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机译:维氏硬度测量系统
公开/公告号JPS5444473B2
专利类型
公开/公告日1979-12-26
原文格式PDF
申请/专利权人
申请/专利号JP19750065554
发明设计人
申请日1975-05-31
分类号G01N3/42;G01N3/40;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 18:45:09
机译: 维氏硬度测量系统
机译: 维氏硬度压痕测量仪校准用标准压痕样品
机译: 用于校准维氏硬度指示测量仪器的标准指示样品