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REMOVAL OF IMPURITIES IN FLUORESCENT ANALYSIS OF SULPHUR DIOXIDE

机译:去除二氧化硫荧光分析中的杂质

摘要

In a sulfur dioxide analyzer which measures the content of sulfur dioxide by fluorescence of sulfur dioxide molecules when illuminated by an ultraviolet light source, there is disclosed a converter containing vanadium pentoxide for removal of polynuclear aromatic hydrocarbons which produce interference when sulfur dioxide is measured by fluorescent methodology.
机译:在一种二氧化硫分析仪中,当通过紫外光源照射时,该二氧化硫分析仪通过二氧化硫分子的荧光来测量二氧化硫的含量,公开了一种含有五氧化二钒的转换器,用于去除多核芳香烃,当通过荧光法测量二氧化硫时会产生干扰。方法。

著录项

  • 公开/公告号AU5520180A

    专利类型

  • 公开/公告日1980-08-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BECKMAN INSTRUMENTS INC.;

    申请/专利号AU19800055201

  • 发明设计人 JOHN NEPOMUCENE HARMAN III;

    申请日1980-02-04

  • 分类号G01N1/34;G01N21/64;

  • 国家 AU

  • 入库时间 2022-08-22 17:59:24

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