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机译:半导体和介电材料的反射模量和相变系数的测量方法
公开/公告号SU748283A1
专利类型
公开/公告日1980-07-15
原文格式PDF
申请/专利权人 KH G UNIV IM.A.M.GORKOGO;
申请/专利号SU19762338929
发明设计人 YAGUDIN GADIJ KHSU;EPISHIN VLADIMIR ASU;BAKHTIN VITALIJ DSU;DUNAEVSKIJ GRIGORIJ ESU;
申请日1976-03-26
分类号G01R27/06;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 17:48:47
机译: 超高频设备反射和传输系数模量和相位的测量方法
机译: 微波通道反射模量和相变系数的测量装置
机译: 超高频电路中模量和反射系数的测量装置