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机译:X射线光谱仪,用于研究单晶结构的完善
公开/公告号SU898302A1
专利类型
公开/公告日1982-01-15
原文格式PDF
申请/专利权人 INST KRISTALLOGRAFII IM. A.V. SHUBNIKOVA AN SSSR;
申请/专利号SU19802958773
发明设计人 MIRENSKIJ ANATOLIJ VSU;SHILIN YURIJ NSU;IMAMOV RAFIK MSU;YAKIMOV SERGEJ SSU;KOVALCHUK MIKHAIL VSU;
申请日1980-05-16
分类号G01N23/207;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 13:01:06
机译: X射线光谱研究单晶结构的完善
机译: 研究单晶结构缺陷的方法
机译: 用于研究单晶薄表面层的结构渗透的装置