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METHOD OF AND SYSTEM FOR MEASUREMENT OF CURRENT-VOLTAGE CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR POWER DEVICES WITH QUASICURRENT SUPPLY SOURCE

机译：带有准电源的半导体功率设备的电流-电压特性测量方法和系统

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  • 公开/公告号PL234357A1

    专利类型

  • 公开/公告日1983-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 POLITECHNIKA GDANSKA;

    申请/专利号PL19810234357

  • 发明设计人 RZEPA HENRYK;KUCHTA JERZY;

    申请日1981-12-21

  • 分类号G01R;

  • 国家 PL

  • 入库时间 2022-08-22 11:02:27

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