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机译：时间积分辐射的布置，用于光学辐射和电离辐射
公开/公告号DD160919A1
专利类型
公开/公告日1984-06-13
原文格式PDF
申请/专利权人 MITTWEIDA ING HOCHSCHULE DD;
申请/专利号DD19790214551
发明设计人 SCHLEICHER ERICH DD;
申请日1979-07-24
分类号G01T1/02;
国家 DD
入库时间 2022-08-22 09:21:43
机译： 用于测量电离辐射的闪烁比色皿，测量电离辐射测量装置，测量电离辐射的方法
机译： X射线分析装置，例如在食品工业中对种子进行分选，具有X射线辐射源，用于发射穿过液滴路径的部分区域的辐射;还有延时和集成摄像头，用于检测穿透的辐射
机译： 监视装置，用于监视用于电离辐射的放射线检测器装置的操作
