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机译:用于测量玻璃上的污染物的方法以及应用该方法的设备中的污染物。
公开/公告号FI843774A0
专利类型
公开/公告日1984-09-26
原文格式PDF
申请/专利权人 VALTION TEKNILLINEN TUTKIMUSKESKUS;
申请/专利号FI19840003774
发明设计人 SAARI HEIKKI;
申请日1984-09-26
分类号G01M;
国家 FI
入库时间 2022-08-22 09:18:27
机译: 用于测量玻璃上的污染物的方法以及应用该方法的设备中的污染物。
机译: 测量光泽度的方法和应用该方法的方法。