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机译:分光光度计通过前角膜总面积在选定角度下的散射辐射测量。
公开/公告号NL173679C
专利类型
公开/公告日1984-02-16
原文格式PDF
申请/专利权人 BECKMAN INSTRUMENTS INC. TE FULLERTON CALIFORNIE VER. ST. V. AM.;
申请/专利号NL19710000938
发明设计人
申请日1971-01-25
分类号G01N21/90;G01J1/06;
国家 NL
入库时间 2022-08-22 09:16:35
机译: 分光光度计通过前角膜总面积在选定角度下的散射辐射测量。