首页> 外国专利> METHOD OF AUTOIONIC MICROSCOPIC ANALYSIS OF POINTS DEFECTS IN METALS

METHOD OF AUTOIONIC MICROSCOPIC ANALYSIS OF POINTS DEFECTS IN METALS

机译:金属点缺陷的自动显微分析方法

摘要

method автоионномикроскопического analysis of point defects in metals including непрерьгоное evaporation field of surface atoms of the sample and кинематографич ескую formed автоионных and registratio
机译:方法对金属中的点缺陷进行自动电镜分析,包括样品表面原子的连续蒸发场以及电影形成的自体离子和配体

著录项

  • 公开/公告号SU852102A1

    专利类型

  • 公开/公告日1985-02-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SUVOROV A.L.SU;

    申请/专利号SU19802894253

  • 发明设计人 SUVOROV A.L.SU;

    申请日1980-08-24

  • 分类号H01J37/285;

  • 国家 SU

  • 入库时间 2022-08-22 07:59:05

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号