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METHOD OF MEASURING DISTORTION OF CHINA TILE* ETC* AND DISTORTION MEASURING DEVICE

机译:瓷砖* ETC *的变形测量​​方法和变形测量装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号JPS614042B2

    专利类型

  • 公开/公告日1986-02-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MAKINO TETSUKOSHO KK;

    申请/专利号JP19770155960

  • 发明设计人 KUSUKI TOSHISHIGE;YOSHIDA KAZUO;

    申请日1977-12-23

  • 分类号G01B21/20;G01B21/24;G01B21/32;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 07:44:28

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