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机译:测量单元,用于同时电化学和电化学光谱测量电化学系统
公开/公告号DD234939A1
专利类型
公开/公告日1986-04-16
原文格式PDF
申请/专利权人 AKAD WISSENSCHAFTEN DDR DD;
申请/专利号DD19850273595
发明设计人 HEERDEGEN KLAUS DD;DUNSCH LOTHAR DD;SCHNEIDER WILFRIED DD;
申请日1985-02-27
分类号G01N24/10;
国家 DD
入库时间 2022-08-22 07:42:32
机译: 测量单元,用于同时电化学和电化学光谱测量电化学系统
机译: 预定的测量产品是制造用于测量预定的测量产品的电化学测量设备微电极的电化学方法,用于测量的电化学电化学测量设备微电极,预定测量对象的电化学测量,电化学测量设备以及配备有用于测量设备的电化学测量设备微电极的电化学测量设备使用电化学测量集微电极对预定测量对象进行电化学测量
机译: 通过改进具有扫描电化学显微镜(SECM)方法和探针的系统,可同时获得电化学信息和光谱信息的电化学和拉曼光谱监测,扫描和反馈激励探针