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METHOD OF DETERMINING COEFFICIENTS OF SECONDARY EMISSION OF SPECIMEN COMPONENTS

机译：测定标本成分二次发射系数的方法

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摘要

the invention относитс by secondary ion mass spectrometry. the chain изобретени - to improve the accuracy and repeatability of measurements козффициентов secondary ion emission components of the sam

机译：本发明通过二次离子质谱法进行。链изобретени-提高测量的准确性和可重复性SAM的二次离子发射成分козффициентов

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公开/公告号SU1211645A1

专利类型
公开/公告日1986-02-15

原文格式PDF
申请/专利权人 O KT BYURO S O PROIZV I METALLOFIZIKI AN USSR;
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申请/专利号SU19843725944
发明设计人 KOLYADA VALERIJ MSU;NAGORNAYA TATYANA VSU;VASILEV MIKHAIL ASU;CHEREPIN VALENTIN TSU;
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申请日1984-04-10
分类号G01N27/62;H01J49/26;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 07:34:16

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