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PROBE FOR STUDYING CORROSION OF CURRENT-CONDUCTIVE MATERIALS

机译：研究导电材料腐蚀的探针

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摘要

the invention относитс to test technology. the purpose of изобретени - decreasing dimensions and increasing the reliability.the probe includes a sensor in the form of a crepe гофрами пр моугольной f

机译：这项发明可以测试技术。 изобретени的目的-减小尺寸并提高可靠性。该探头包括可丽饼形式的传感器crepeгофрамипрамоугольнойf

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公开/公告号SU1249409A1

专利类型
公开/公告日1986-08-07

原文格式PDF
申请/专利权人 SP KT BYURO FIZIKO-MEKHANICHESKOGO I AN USSR;
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申请/专利号SU19843760246
发明设计人 BEREZITSKIJ LYUBOMIR BSU;CHEKH BOGDAN TSU;KHRAMOV ALVIAN VSU;
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申请日1984-07-09
分类号G01N17/00;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 07:33:43

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