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SOLUTION FOR PERFORMING LUMINESCENT FLAW DETECTION X-RAU DIFFRAKTION METHOD OF ANALYZING STRUCTURE DISARRANGEMENTS IN THIN NEAR-SURFACE LAJERZ OF CRYSTALS

机译：晶体近表面薄层结构缺陷的发光缺陷检测X-Rau扩散方法

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摘要

the invention представл ет a solution we дл inspection metal or металлокерамических products with increased porosity.the invention provides a light contrast and simultaneous повьшгение ркости свечен

机译：本发明提供了一种用于检查具有增加的孔隙率的金属或金属陶瓷产品的解决方案。

著录项

公开/公告号SU1257481A1

专利类型
公开/公告日1986-09-15

原文格式PDF
申请/专利权人 CHERNYSHEV VLADIMIR SSU;VLASKINA TAMARA YASU;
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申请/专利号SU19843845572
发明设计人 VLASKINA TAMARA YASU;CHERNYSHEV VLADIMIR SSU;
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申请日1984-11-05
分类号G01N21/91;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 07:33:37

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