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METHOD OF MEASURING INTENSITY OF ELECTRON SCATTERING IN ELECTRON DIFFRACTOMETRY INVESTIGATIONS

机译：电子衍射法中电子散射强度的测量方法

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摘要

the invention относитс by electronic microscopy, in particular электронографии. purpose to reduce the time изобретени измерени .as a result рассе ни on molecules of substances previously formed the

机译：本发明是通过电子显微镜，特别是电子衍射。目的是减少测量发明的时间，因为以前形成的物质分子上的分散

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公开/公告号SU1269215A1

专利类型
公开/公告日1986-11-07

原文格式PDF
申请/专利权人 MGU IM.M.V.LOMONOSOVA;
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申请/专利号SU19853901284
发明设计人 GOLUBKOV VIKTOR VSU;
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申请日1985-05-27
分类号H01J37/00;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 07:33:27

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