首页> 外国专利> High resolution geologic sample scanning apparatus and process of scanning geologic samples

High resolution geologic sample scanning apparatus and process of scanning geologic samples

机译:高分辨率地质样品扫描装置及地质样品扫描方法

摘要

An apparatus and process of analyzing samples using reflected and/or emitted radiation is described. The apparatus includes a means for containing the sample and moving the sample and/or a reflector at a uniform rate through a fixed plane. A radiation source irradiates the core sample. The reflected or emitted radiation is directed onto a detector means capable of forming electrical signals which are digitally encoded and recorded on a digital recorder for further interactive analysis and/or processing.
机译:描述了使用反射的和/或发射的辐射来分析样品的设备和过程。该设备包括用于容纳样品并使样品和/或反射器以均匀的速率移动通过固定平面的装置。辐射源照射核心样品。反射或发射的辐射被引导到能够形成电信号的检测器装置上,该电信号被数字编码并记录在数字记录器上,以进行进一步的交互式分析和/或处理。

著录项

  • 公开/公告号US4616134A

    专利类型

  • 公开/公告日1986-10-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHEVRON RESEARCH COMPANY;

    申请/专利号US19840631662

  • 发明设计人 FRANK D. PRUETT;FLOYD F. SABINS JR.;

    申请日1984-07-17

  • 分类号G01V5/00;G01F23/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 07:28:42

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号