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机译:水分射线光度测定中材料体积质量变化的影响消除方法
公开/公告号CS253040B1
专利类型
公开/公告日1987-10-15
原文格式PDF
申请/专利权人 VOTAVAPETRCS;CASTEKDALIBORCS;SMEJKALZDENEKCS;
申请/专利号CS19850006831
发明设计人 SMEJKALZDENEKCS;VOTAVAPETRCS;CASTEKDALIBORCS;
申请日1985-09-25
分类号G01N23/05;
国家 CS
入库时间 2022-08-22 07:21:28
机译: 体积质量(方法更换材料的周期影响辐射水分的测定并确定)
机译: 放射线测定材料体积质量的方法。
机译: 用放射线测定碳含量和碳含量并补偿体积重量变化的方法。