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机译：非工厂测量双电的测量程序和设备导电片或箔状材料的电性能或（影响物理性能）。
公开/公告号FI854202L
专利类型
公开/公告日1987-04-29
原文格式PDF
申请/专利权人 NYFORS EBBE GUSTAF;VAINIKAINEN PERTTI-VELI;FISCHER MATTI TORSTEN;
申请/专利号FI19850004202
发明设计人 NYFORS EBBE GUSTAF;VAINIKAINEN PERTTI-VELI;FISCHER MATTI TORSTEN;
申请日1985-10-28
分类号G01N;
国家 FI
入库时间 2022-08-22 07:20:39
机译： 非工厂测量双电的测量程序和设备导电片或箔状材料的电性能或（影响物理性能）。
机译： 危险性导电盘或薄膜材料的电气特性或工业有效产品的无接触测量的测量程序和装置。
