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METHOD AND SPECTROMETER FOR STUDYING SEMICONDUCTOR CRYSTALS BY MEANS OF NUCLEAR MAGNETIC RESONANCE METHOD

机译：核磁共振法研究半导体晶体的方法和光谱仪

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摘要

the invention относитс technology радиоспектроскопии and позвол ет to study the physical properties of электропровод щих materials without their разрушени .purpose изобретени вл етс simplification

机译：本发明涉及放射光谱技术，并允许研究导电材料的物理性质而不会破坏它们。

著录项

公开/公告号SU1300354A1

专利类型
公开/公告日1987-03-30

原文格式PDF
申请/专利权人 CHERNOVITSKOE OTDEL I PROBLEM MATERIALOVEDENIYA AN USSR;
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申请/专利号SU19853930672
发明设计人 LETYUCHENKO SERGEJ DSU;SLYNKO EVGENIJ ISU;KHANDOZHKO ALEKSANDR GSU;
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申请日1985-07-12
分类号G01N24/08;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 07:13:51

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