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METHOD OF MEASURING COMPONENTS OF MAGNETIC PERMEABILITY TENSOR OF THIN MAGNETIC FILMS

机译：薄磁膜的磁导率张量的测量方法

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摘要

the invention относитс to the field of measuring technology. objective повьше of accuracy измерени component тензора magnetic permeability (mp), thin magnetic films.измерени method implemented in t

机译：该发明在测量技术领域。精确度的客观指标导磁率（mp），薄的磁性膜。在t中实现的измерени方法

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公开/公告号SU1302227A1

专利类型
公开/公告日1987-04-07

原文格式PDF
申请/专利权人 SIMFEROPOLSKIJ G UNIV IM.M.V.FRUNZE;
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申请/专利号SU19843770435
发明设计人 FRISHMAN ANATOLIJ MSU;LEJFER PETR NSU;DUBINKO SERGEJ VSU;
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申请日1984-07-06
分类号G01R33/16;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 07:13:49

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