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GONIOMETRIC DEVICE FOR X-RAY DIFFRACTION INVESTIGATIONS OF MONOCRYSTALS

机译：单晶X射线衍射研究的测角装置

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摘要

the invention относитс to the field of x-ray приборостроени and may be used дл расширени technical possibilities existing j x-ray дифрактометров.the aim is to extend the functional capabilities of

机译：本发明是X射线技术领域的一项发明，可以在现有的X射线дифрактометров技术存在的可能性中使用。

著录项

公开/公告号SU1303914A1

专利类型
公开/公告日1987-04-15

原文格式PDF
申请/专利权人 LE N-PROIZV OB BUREVESTNIK;
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申请/专利号SU19853940493
发明设计人 RAZUMOVSKIJ ALEKSANDR YUSU;PETRASHEN PAVEL VSU;
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申请日1985-08-06
分类号G01N23/20;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 07:13:50

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