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INSTALLATION FOR DIFFRACTOMETRIC STUDY OF REAL STRUCTURE OF CRYSTALS USING SYNCHROTRON RADIATION

机译：同步辐射法对晶体真实结构进行比色法研究的安装

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摘要

the invention относитс to x-ray дифрактометрической equipment дл исследовани монокристаллов.the purpose of изобретени - повьшение accuracy and empowering исследовани with external воздействи х sa

机译：本发明涉及用于研究单晶的X射线衍射仪，本发明的目的是提高分析的准确性并在外部影响x sa的情况下增强研究能力。

著录项

公开/公告号SU1334924A1

专利类型
公开/公告日1988-05-23

原文格式PDF
申请/专利权人 INST KRISTALLOGRAFII IM.A.V.SHUBNIKOVA;SP K BYURO RENTGENOVSKOGO KRISTALLOOPTICHESKOGO PRIBOROSTROENIYA S EX PROIZV I KRISTALLOGRAFII IM.A.V.SHUBNIKOVA;
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申请/专利号SU19853998783
发明设计人 GOLOVINOV V.N.SU;KORYASHKIN V.I.SU;SHISHKOV V.A.SU;ALESHKO-OZHEVSKIJ O.P.SU;
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申请日1985-12-30
分类号G01N23/207;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 06:54:00

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