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机译:通过重合-反入射评估来减少放射性测量中的背景计数的方法和电路布置
公开/公告号GB2197947A
专利类型
公开/公告日1988-06-02
原文格式PDF
申请/专利权人 * GESELLSCHAFT FUR STRAHLEN-UND UMWELTFORSOHUNG MBH;
申请/专利号GB19870022177
发明设计人 DR MARKUS * FORSTER;HARALD * GAUDLITZ;RICHARD * HEFKA;PETER * MAIER;
申请日1987-09-21
分类号G01T1/172;
国家 GB
入库时间 2022-08-22 06:50:32
机译: 通过重合-反入射评估减少放射性测量中的背景计数的方法和电路布置
机译: 在具有同时发生-符合估计的情况下减少放射性测量中的背景计数的方法和电路装置
机译: 减少具有符合性的测量底部计数的方法和电路装置-检测反符合-评估和方法的使用