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Function Array Sequencing System and VLSI Inspection Method for VLSI Inspection System

机译:用于vLSI检查系统的功能阵列排序系统和vLSI检查方法

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  • 公开/公告号KR890005533A

    专利类型

  • 公开/公告日1989-05-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 엔.라이스 머레트;

    申请/专利号KR19880011800

  • 发明设计人 마크 알.마이딜;마크 이.칼슨;

    申请日1988-09-13

  • 分类号G01R31/26;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 06:33:19

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