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METHOD OF DETERMINING FULL DIFFERENCE OF MOTION WHEN MEASURING PARAMETERS OF DOUBLE-REFRACTION OF CRYSTALS

机译：测量晶体双折射参数时确定运动全差的方法

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摘要

the invention относитс to изменени м in optics and can be used дл определени absolute values двупреломлений crystals in the study of their физичес ких properties.in order to повышени accuracy опре

机译：本发明涉及光学的变化，可在研究其物理性质时用于确定双折射晶体的绝对值，以提高确定的准确性

著录项

公开/公告号SU1518729A1

专利类型
公开/公告日1989-10-30

原文格式PDF
申请/专利权人 LVOVSKIJ G UNIV IM.IV.FRANKO;
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申请/专利号SU19874245087
发明设计人 ROMANYUK NIKOLAJ ASU;URSUL ZINOVIJ MSU;GABA VLADIMIR MSU;
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申请日1987-05-15
分类号G01N21/23;
国家 SU
入库时间 2022-08-22 06:32:07

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