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PYROMETER MEASUREMENT IN PRESENCE OF STRONG AMBIENT RADIATION

机译:存在强环境辐射时的热释光仪测量

摘要

Amethod is disclosed for measuring the temperature of remote hot samples (4) in the presence of ambient radiation (7). A portion of the surface of the sample (4) is for example treated (6), to obtain a spectral emissivity different from the untreated surface (5). The spectral radiances of the treated (6) and untreated (5) surface portions are measured and the temperature calculated from these values and the known emissivities.
机译:公开了一种用于在环境辐射(7)存在的情况下测量远程热样品(4)的温度的方法。例如对样品(4)的一部分表面进行处理(6),以获得与未处理的表面(5)不同的光谱发射率。测量已处理(6)和未处理(5)表面部分的光谱辐射,并根据这些值和已知的发射率计算温度。

著录项

  • 公开/公告号JPH0221731B2

    专利类型

  • 公开/公告日1990-05-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 EXXON RESEARCH ENGINEERING CO;

    申请/专利号JP19820207476

  • 发明设计人 AREKISANDAA SUTAIN;

    申请日1982-11-25

  • 分类号G01J5/06;G01J5/00;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-22 06:22:35

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