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PROCESS AND MEASURING ARRANGEMENT FOR MEASURING THE CURIE-N EL- TEMPERATURE OF SINGLE AND POLYCRYSTALLINE MAGNETIC MATERIALS

机译：测量单晶和多晶磁性材料的居里[N EL-]温度的过程和测量装置

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公开/公告号HUT53961A

专利类型
公开/公告日1990-12-28

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申请/专利权人 TAVKOEZLESI KUTATO INTEZETHU;
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申请/专利号HU19890002390
发明设计人 UDVARDYJOZSEFNEHU;RUDNAYGYULAHU;
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申请日1989-05-12
分类号G01N23/20;G01N25/12;G01N27/72;G01R33/12;
国家 HU
入库时间 2022-08-22 05:58:30

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