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机译:用于从分析角度应用样本的设备。
公开/公告号IT9021890A1
专利类型
公开/公告日1991-04-30
原文格式PDF
申请/专利权人 OLYMPUS OPTICAL CO. LTD.;
申请/专利号IT19900021890
发明设计人 SUZUKI HIDEO;
申请日1990-10-26
分类号
国家 IT
入库时间 2022-08-22 05:56:54
机译: 用于从分析角度应用样本的设备。
机译: 椭圆偏光分析仪,椭圆偏光分析程序及用于测量薄膜厚度变化
机译: 用于子PPB测量的有源,可变样品浓度法和装置及其示例性X射线分析应用