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Large-scale mapping of multidimensional structure parameters in free space

机译:自由空间中多维结构参数的大规模映射

摘要

In a process for large-scale mapping of parameters of multidimensional structures in a natural environment, aerial survey photographs of the natural environment or regions thereof are taken during first photographic surveying flights at a flight altitude of approximately 150 to 500 m above the ground using reconnaissance cameras (2) in combination with telelens cameras (3). Detailed photographs of the section of the region covered by the reconnaissance cameras (2) are obtained from said aerial survey photographs. The aerial survey photographs are identified in terms of their position in the natural environment by means of orientation devices and evaluated using photogrammetric methods. The recorded data concerning the natural environment of a structure are allocated to the co-ordinates of the structure in the natural environment and can be accessed as desired.
机译:在自然环境中对多维结构的参数进行大规模制图的过程中,使用侦察技术在海拔约150至500 m的飞行高度的第一次摄影测量飞行期间,拍摄了自然环境或其区域的航拍照片摄像机(2)与远摄镜头摄像机(3)组合。侦察摄像机(2)所覆盖的区域的部分的详细照片从所述航测照片获得。航拍照片通过定位设备根据其在自然环境中的位置进行识别,并使用摄影测量方法进行评估。与建筑物的自然环境有关的记录数据被分配给该建筑物在自然环境中的坐标,并且可以根据需要进行访问。

著录项

  • 公开/公告号EP0325957B1

    专利类型

  • 公开/公告日1991-03-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SCHMIDT VON BRAUN HEIKO DR.;

    申请/专利号EP19890100491

  • 发明设计人 SCHMIDT VON BRAUN HEIKO DR.;

    申请日1989-01-12

  • 分类号G01C11/02;G03B15/00;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-22 05:53:43

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