首页> 外国专利> METHOD FOR MEASURING OF SPECIFIC ELECTRIC VOLUME RESISTANCE OF GRAPHITE AND METAL-GRAPHITE MATERIALS

METHOD FOR MEASURING OF SPECIFIC ELECTRIC VOLUME RESISTANCE OF GRAPHITE AND METAL-GRAPHITE MATERIALS

机译:石墨和金属石墨材料比电容量的测量方法

摘要

the invention u043eu0442u043du043eu0441u0438u0442u0441u00a0 to measurement technique and can be used u0434u043bu00a0 u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0 electric parameters of materials and products. goal is to improve the accuracy and functionality.way to apply u0434u043bu00a0 samples of arbitrary geometry.what u043fu043eu0437u0432u043eu043bu00a0u0435u0442 u0438u0437u043cu0435u0440u00a0u0442u044c al u043au0442u0440u0438 had the properties of graphite and u043cu0435u0442u0430u043bu043bu043eu0433u0440u0430u0444u0438 - u0442u043eu0432u044bu0445 materials in the process of u043fu043eu043bu0443u0447u0435u043du0438u00a0 and automated control of electrical the characteristics of graphite and u043cu0435u0442u0430u043bu043bu043eu0433u0440u044d - u0444u0438u0442u043eu0432u044bu0445 materials so that the u0434u043eu0441u0442u0438u0433u0430u0435u0442u0441u00a0 u043fu0440u043eu0438u0437u0432u043eu0434u00a0u0442 u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0 u043fu0430u0434u0435u043du0438u00a0 u043du0430u043fu0440u00a0u0436u0435u043du0438u00a0 between u043bu0432u0443u043cu00a0 potential probes four u0433u0440u0430u043du00a0u043c u043eu0431u0440u0430u0437u0446 without u043du0430u0440u0443u0448u0435u043du0438u00a0 u044du043bu0435u043au0442u0440u0438u0447u0435u0441 othe contact between the sample and the plates u0442u043eu043au043eu0432u0435u0434u0443u0449u0438u0445 probes or u0434u0432u0443u043cu00a0 potential probes with the configuration, the transverse u0441u0435u0447u0435u043du0438u00a0 u043eu0431u0440u0430u0437u0446 u0432u043eu0441u043fu0440u043eu0438u0437u0432u043eu0434u00a0u0449u0435u0439 as well. method provides a precise definition of the u0441u043du0438u0436u0435u043du0438u00a0 u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0 random errors, and also has wide functional u0432u043eu0437u043cu043eu0436u043du043eu0441u0442u00a0u043cu0438 2 il.
机译:本发明 u043e u0442 u043d u043e u0441 u0438 u0442 u0441 u00a0作为测量技术,可以用于 u0434 u043b u00a0 u0438 u0437 u043c u0435 u0435 u0440 u0435 u043d u0438 材料和产品的电气参数。目标是提高准确性和功能性。应用 u0434 u043b u00a0任意几何形状的样本。 u043f u043e u0437 u0432 u043e u043b u00a0 u0435 u0442 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u00a0 u0442 u044c al u043a u0442 u0440 u0438具有石墨和 u043c u0435 u0442 u0430 u043b u043b u043b u043e u0433 u0440 u0430 u0444 u0438- u0442的属性 u043e u0432 u044b u0445过程中的材料 u043f u043e u043b u0443 u0447 u0435 u043d u0438 u00a0并自动控制石墨的电气特性和 u043c u0435 u0442 u0430 u043b u043b u043e u0433 u0440 u044d- u0444 u0438 u0442 u043e u0432 u044b u0445材料,以便将 u0434 u043e u0441 u0442 u0438 u0433 u0430 u0435 u0442 u0441 u00a0 u043f u0440 u043e u0438 u0437 u0432 u043e u0434 u00a0 u0442 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u0435 u043d u0438 u00a0 u043f u0430 u0434 u0435 u0438 u00a0 u043d u0430 u043f u0440 u00a0 u0436 u0435 u043d u0438 u00a0在 u043b u0432 u0443 u043c u00a0 p之间电位探头四个 u0433 u0440 u0430 u043d u00a0 u043c u043e u0431 u0440 u0430 u0437 u0446而没有 u043d u0430 u0440 u0443 u0448 u0435 u043d u0438 u00a0 u0435 u043a u0442 u0440 u0438 u0447 u0435 u0441样品与平板之间的接触 u0442 u043e u043a u043e u043e u0432 u0435 u0434 u0443 u0449 u0438 u0438 u0445探针或 u0434 u0432 u0443 u043c u00a0带有配置的电位探头,横向 u0441 u0435 u0447 u0435 u043d u0438 u00a0 u043e u0431 u0440 u0430 u0437 u0446 u0446 u0432 u043e u0441 u043f u0440 u043e u0438 u0437 u0432 u043e u0434 u00a0 u0449 u0435 u0439也是如此。方法提供了 u0441 u043d u0438 u0436 u0435 u043d u0438 u00a0 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u0435 u043d u0438 u00a0随机错误的精确定义,并且具有广泛的功能u0432 u043e u0437 u043c u043e u0436 u043d u043e u0441 u0442 u00a0 u043c u0438 2 il。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号