首页> 外国专利> METHOD OF DETERMINATION OF PARAMETERS OF ENERGY LEVELS IN SEMI-CONDUCTORS AND HETEROSTRUCTURES

METHOD OF DETERMINATION OF PARAMETERS OF ENERGY LEVELS IN SEMI-CONDUCTORS AND HETEROSTRUCTURES

机译:测定半导体和异质结构中能级参数的方法

摘要

the invention u043au0430u0441u0430u0435u0442u0441u00a0 u043au043eu043du0442u0440u043eu043bu00a0 u044du043bu0435u043au0442u0440u043eu0444u0438u0437u0438u0447u0435u0441u043au0438u0445 material properties and can be used u0434u043bu00a0 u0438u0441u0441u043bu0435u0434u043eu0432u0430u043du0438u00a0 and u043au043eu043du0442u0440u043eu043bu00a0 physical parameters u043fu043eu043bu0443u043fu0440u043eu0432u043eu0434u043du0438u043au043e in u0433u0435u0442u0435u0440u043eu0441u0442u0440u0443u043a tour. to improve the accuracy and the ability u0438u0437u043eu0431u0440u0435u0442u0435u043du0438u00a0 u00a0u0432u043bu00a0u0435u0442u0441u00a0 measurements u0434u043bu00a0 structures with small u0441u043eu043fu0440u043eu0442u0438u0432u043bu0435u043du0438u00a0u043cu0438 leakage. to sample their u043eu0431u0435u0434u043du00a0u044eu0449u0435u0435 u043du0430u043fu0440u00a0u0436u0435u043du0438u0435 over time.a switch from the tick u043du0430u043fu0440u00a0u0436u0435u043du0438u00a0 to measuring scheme and u0438u0437u043cu0435u0440u00a0u044eu0442 value u0441u0442u0435u043au0430u044eu0449u0435u0433u043e u0437u0430u0440u00a0u0434u0430. u043fu043eu0432u0442u043eu0440u00a0u044eu0442 process u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0 u0437u0430u0440u00a0u0434u0430 after u043fu0440u0438u043bu043eu0436u0435u043du0438u00a0 to u043eu0431u043bu0430u0437u0446u0443 u043eu0431u0435u0434u043du00a0u044eu0449u0435u0433u043e u043du0430u043fu0440u00a0u0436u0435u043du0438u00a0 over time. u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u044eu0442 u0437u0430u0440u00a0u0434 u0434q, u0441u0442u0435u043au0430u043au0449u0438u0439 with sample, and u0432u0440u0435u043cu00a0 u0434u0408 u044au0433,.u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu00a0u0435u0442 u0437u0430u0432u043a - u0441u0438u043cu043eu0441u0442u043b uq (u0434u0408) with several fixed u0437u043du0430u0447u0435u043du0438u00a0u0445 temperature by counting the search parameters. 1 il. q s
机译:本发明 u043a u0430 u0441 u0430 u0435 u0442 u0441 u00a0 u043a u043e u043d u0442 u0440 u043e u043b u00a0 u044d u043b u043b u0435 u043a u0442 u0440 u0440 u043e u0438 u0437 u0438 u0447 u0435 u0441 u043a u0438 u0445材料属性并可以使用 u0434 u043b u00a0 u0438 u0441 u0441 u043b u0435 u0435 u0434 u043e u0432 u0430 u043d u0438 u00a0和 u043a u043e u043d u0442 u0440 u043e u043b u043b u00a0物理参数 u043f u043e u043b u0443 u043f u0440 u043e u043e u0432 u043e u0434 u043d u043438 u0433 u0435 u0442 u0435 u0440 u043e u0441 u0442 u0440 u0443 u043a导览中的u043e。提高精度和能力 u0438 u0437 u043e u0431 u0440 u0435 u0442 u0435 u043d u043d u0438 u00a0 u00a0 u0432 u043b u00a0 u0435 u0435 u0442 u0441 u00a0测量 u0434 u043b u00a0结构,其中 u0441 u043e u043f u0440 u043e u0442 u0438 u0432 u043b u0435 u043d u0438 u00a0 u043c u0438泄漏较小。在一段时间内对其 u043e u0431 u0435 u0434 u043d u00a0 u044e u0449 u0435 u0435 u0435 u043d u0430 u043f u0440 u00a0 u0436 u0435 u0435 u043d u043d u0438 u0435进行采样。勾选 u043d u0430 u043f u0440 u00a0 u0436 u0435 u043d u0438 u00a0到测量方案和 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u00a0 u044e u0442值 u0441 u0442 u0435 u043 u0430 u044e u0449 u0435 u0433 u043e u0437 u0430 u0440 u00a0 u0434 u0430。 u043f u043e u0432 u0442 u043e u0440 u00a0 u044e u0442进程 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u0435 u043d u0438 u00a0 u0437 u0430 u0440 u00a0 u0434 u043f u0440 u0438 u043b u043e u0436 u0435 u043d u0438 u00a0至 u043e u0431 u043b u0430 u0437 u0446 u0443 u043e u0431 u0435 u0434 u043d u00a0 u0449 u0435 u0433 u043e u043d u0430 u043f u0440 u00a0 u0436 u0435 u043d u0438 u00a0随着时间的推移。 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u00a0 u044e u0442 u0437 u0430 u0440 u00a0 u0434 u0434q, u0441 u0442 u0435 u043a u0430 u043a u0449带有示例的u0439,以及 u0432 u0440 u0435 u043c u00a0 u0434 u0408 u044a u0433,。 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u0040 u00a0 u0435 u0442 u0437 u0430 u0432 u043a- u0441 u0438 u043c u043e u0441 u0442 u043b uq( u0434 u0408)具有多个固定的 u0437 u043d u0430 u0447 u0435 u043d u043d u0438 u00a0 u0445温度搜索参数。 1升q s操作

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号