FREMGANGSMAATE TIL LOKALISERT SPEKTROSKOPISK ANALYSE AV DET LYS SOM DIFFRAKTERES ELLER ABSORBERES AV EN SUBSTANS SOMER ANBRAGT I ET NAERFELT

摘要

Denne oppfinnelse angår en fremgangsmåte til lokalisert spektroskoplsk analyse av lys som diffrakteres eller absorberes av en gjennomsiktig og/eller reflekterende substans anbragt i et nærfelt frembragt ved gjennomslipning eller refleksjon av en farete elektromagnetisk stråling, kjennetegnet ved at en lokalisert spektroskoplsk analyse -utføres av nærfeltet og/eller av en andre elektromagnetisk stråling som samtidig med den ferste stråling rettes mot substansen, hvilken analyse gjelder den brøkdel av det nevnte nærfelt eller av den elektromagnetiske stråling som har samvirket med substansen.Denne oppfinnelse er særlig beregnet for hayopplasende spektroskoplsk studium av gjennomsiktige og/eller reflekterende substanser hvis optiske profil eller geometriske profil avleses samtidig ved hjelp av et optisk nærfeltscanderende mikroskop som f.eks. et frustrert svinnende feltmikroskop med gjennomslipning eller et ledet nærfeltmikroskop med refleksjon.