首页> 外国专利> METHOD OF MEASURING THICKNESS OF CEMENT GROUT FILM ON FILLER GRANULES

METHOD OF MEASURING THICKNESS OF CEMENT GROUT FILM ON FILLER GRANULES

机译:填料颗粒上水泥浆膜厚度的测量方法

摘要

the invention u043eu0442u043du043eu0441u0438u0442u0441u00a0 to the instrumentation technology, in particular to the study of materials with the help of the reflected u0438u0437u043bu0443u0447u0435u043du0438u00a0, and is u0434u043bu00a0 u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438 the thickness of the film u00a0 cement test u0433u0440u0430u043du0443u043bu0435 u0437u0430u043fu043eu043bu043du0438u0442u0435u043bu00a0. the purpose of u0438u0437u043eu0431u0440u0435u0442u0435u043du0438u00a0 - improved accuracy u0438u0437u043cu0435u0440u0435u043du0438u00a0 and additional u043eu043fu0440u0435u0434u0435u043bu0435u043du0438u00a0 u0441u043eu0440u0431u0438u0440u0443u044eu0449u0435u0439 ability u0437u0430u043fu043eu043bu043du0438u0442u0435u043bu00a0 granules.u0433u0440u0430u043du0443u043bu0443 set a u0434u0438u0430u0444u0440u0430u0433u043cu0438u0440u043eu0432u0430u043du043du043eu0433u043e source exciting u0438u0437u043bu0443u0447u0435u043du0438u00a0. u043eu0431u0440u0430u0437u0443u0435u043cu043eu0435 in film and surface area are characteristic of radiation u0440u0435u0433u0438u0441u0442u0440u0438u0440u0443u0435u0442u0441u00a0. after u0443u0434u0430u043bu0435u043du0438u00a0 film re recorded the characteristic radiation arising after the second u043eu0431u043bu0443u0447u0435u043du0438u00a0 source, the results of which read in the the first registration.this difference is u0441u043eu0440u0431u0438u0440u0443u044eu0449u0443u044e ability granules and the film thickness of the test. 1 il. fe
机译:仪器技术,尤其是借助反射的 u0438 u0437 u043b u0443 u0443 u0447 u0435发明的发明 u043e u0442 u043d u043e u0441 u041 u0438 u0442 u0441 u00a0 u043d u0438 u00a0,并且为 u0434 u043b u00a0 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u0435 u043d u0438薄膜的厚度 u00a0水泥测试 u0433 u0440 u0430 u043d u0443 u043b u0435 u0437 u0430 u043f u043e u043b u043d u0438 u0442 u0435 u043b u00a0。 u0438 u0437 u043e u0431 u0440 u0435 u0442 u0435 u043d u0438 u00a0的目的-提高了精度 u0438 u0437 u043c u0435 u0440 u0435 u043d u043d u0438 u00a0和其他 u043e u043f u0440 u0435 u0434 u0435 u043b u0435 u043d u0438 u00a0 u0441 u043e u0440 u0431 u0438 u0440 u0443 u044e u0449 u0435 u0439能力 u0437 u0430 043 u043e u043b u043d u0438 u0442 u0435 u043b u00a0颗粒。 u0433 u0440 u0430 u043d u0443 u043b u0443设置 u0434 u0438 u0430 u04430 u0444 u0440 u0430 u0433 043 u0438 u0440 u043e u0432 u0430 u043d u043d u043e u0433 u043e源激励 u0438 u0437 u043b u0443 u0447 u0435 u043d u0438 u00a0。 u043e u0431 u0440 u0430 u0437 u0443 u0435 u043c u043e u0435是辐射的特征 u0440 u0435 u0433 u0438 u0441 u0442 u0440 u0440 u0438 u0440 u0443 u0435 u0442 u0441 u00a0。在重新记录第二张 u043e u0431 u043b u043b u0443 u0447 u0435 u043d u0438 u00a0源之后产生的特征辐射之后, u0443 u0434 u0430 u043b u0435 u043d在第一次注册中读取的内容。此差异是 u0441 u043e u0440 u0431 u0438 u0440 u0443 u044e u0449 u0443 u044e能力颗粒和测试膜厚度。 1升FE

著录项

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号