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机译:用于温度测量电阻的多点温度检测电路
公开/公告号JPH0510720B2
专利类型
公开/公告日1993-02-10
原文格式PDF
申请/专利权人 YOKOGAWA ELECTRIC CORP;
申请/专利号JP19840275149
发明设计人 OOHASHI KOZO;
申请日1984-12-28
分类号G01K7/20;G08C15/06;G08C19/30;G08C25/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 05:21:04
机译: 用于温度测量电阻的多点温度检测电路
机译: 半导体器件装置具有温度测量装置,该温度测量装置具有在半导体区域的一部分上形成的温度测量电阻器,其中评估电路耦合到温度测量电阻器
机译: 用于测温电阻,使用红外检测仪制备和测量电阻温度