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METHOD AND DEVICE FOR MEASURING MICROSTRUCTURES AND INNER STRESSES OF THE FERROMAGNETIC MATERIALS

机译:铁磁材料的微观结构和内应力的测量方法和装置

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号HU208180B

    专利类型

  • 公开/公告日1993-08-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KFKI-REZONANCIA ELEKTRONIKUS VALLALATI GM.HU;

    申请/专利号HU19900005924

  • 发明设计人 TOTHFERENCHU;

    申请日1990-09-17

  • 分类号G01N27/72;G01R33/12;

  • 国家 HU

  • 入库时间 2022-08-22 05:11:40

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